| 1 |
20240162-T-469
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T
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制定
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20.20
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| 2 |
20240156-T-469
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表面化学分析 表面表征 共聚焦荧光显微镜横向分辨的测量
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T
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制定
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20.20
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| 3 |
20240160-Z-469
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Z
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制定
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20.20
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| 4 |
20240159-T-469
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表面化学分析 扫描探针显微术 用原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的程序
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T
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制定
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20.20
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| 5 |
20240003-Z-469
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表面化学分析 电子能谱 纳米颗粒包覆层厚度和组成的测量
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Z
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制定
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20.20
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| 6 |
20240152-T-469
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表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度的测量方法
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T
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修订
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20.20
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| 7 |
20240005-T-469
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表面化学分析 深度剖析 中能离子散射术对硅基底上纳米尺度重金属氧化物薄膜的无损深度剖析
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T
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制定
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20.20
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| 8 |
20240165-T-469
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表面化学分析 X射线光电子能谱 导电碳基材料结合能的测量
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T
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制定
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20.20
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| 9 |
20221773-T-469
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表面化学分析 俄歇电子能谱 选择仪器性能参数的表述
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T
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修订
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30.20
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| 10 |
20230691-T-469
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表面化学分析 样品处理、制备和安装 第3部分：生物材料
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T
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制定
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30.20
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| 11 |
20233734-T-469
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表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法
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T
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修订
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30.20
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| 12 |
20232371-T-469
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表面化学分析 原子力显微术 用于纳米结构测量的原子力显微镜探针柄轮廓原位表征程序
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T
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制定
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20.20
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| 13 |
20231305-T-469
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表面化学分析 X射线光电子能谱全扫描谱的准实时信息 含碳化合物表面污染的识别和校正规则
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T
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制定
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20.20
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| 14 |
20232363-T-469
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表面化学分析 X射线光电子能谱 均匀材料中元素检测限的评估和报告
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T
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制定
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20.20
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| 15 |
20232364-T-469
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表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱分析中X射线致材料非预期损伤的识别、评估和校正程序
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T
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制定
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20.20
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| 16 |
20232372-Z-469
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Z
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制定
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20.20
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| 17 |
20232769-T-469
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表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
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T
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修订
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20.20
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| 18 |
20232366-T-469
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表面化学分析 二次离子质谱 单离子计数飞行时间质谱分析器的强度标线性
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T
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制定
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20.20
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| 19 |
20232750-T-469
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|
T
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修订
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20.20
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| 20 |
20233507-T-469
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|
T
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修订
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20.20
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